E1抗干扰性开发系统是一套集成电路板开发过程中进行抗干扰分析的 EMC工具系统。采用E1抗干扰开发系统，能够快速精准地定位脉冲群干扰和静电放电干扰的原因（薄弱点），使工程师开发人员能够准确针对薄弱点设计恰当的 EMC措施，

并且使用 E1 评估 EMC措施的效果。E1 检测设备的搭建空间小，适宜于在电子元件开发人员的工作场地使用。E1 用户手册对EMC工作机制以及集成电路板去干扰的基本测量策略作出详细描述。E1 组套包括一个脉冲群干扰和静电放电干扰发生器、九种不同的电场和磁场源、以及其他各类附件。E1系统能帮助你定位系统的敏感点并找出有效的手段使得你的产品尽早通过以下标准测试：

Delivery content

Technical parameters

S21 光学传感器
传输范围	DC...10 Mbps
光纤接口	2.2 mm Ø
电源电压	(3-5) V
电流输入	10 mA
SGZ 21 脉冲群发生器 - 脉冲密度计数器
脉冲参数
上升时间	ca. 2 ns
波尾时间	ca. 10 ns
峰值	ca. 0...1500 V
光学输入
光纤	2.2 mm
最大频率	5 MHz
最小脉冲宽度	100 ns
电源电压	12 V / 200 mA
尺寸 (L x W x H)	(154 x 100 x 62) mm